Nội dung toàn văn Quyết định 822/QĐ-BTTTT năm 2008 chỉ định phòng đo kiểm
BỘ THÔNG TIN VÀ | CỘNG HÒA XÃ HỘI CHỦ NGHĨA VIỆT NAM |
Số: 822/QĐ-BTTTT | Hà Nội, ngày 19 tháng 3 năm 2008 |
QUYẾT ĐỊNH
VỀ VIỆC CHỈ ĐỊNH PHÒNG ĐO KIỂM
BỘ TRƯỞNG BỘ THÔNG TIN VÀ TRUYỀN THÔNG
Căn cứ Nghị định số 187/2007/NĐ-CP ngày 25/12/2007 của Chính phủ quy định chức năng, nhiệm vụ, quyền hạn và cơ cấu tổ chức của Bộ Thông tin và Truyền thông;
Căn cứ Quyết định số 50/2006/QĐ-BBCVT ngày 01/12/2006 của Bộ trưởng Bộ Bưu chính, Viễn thông (nay là Bộ Thông tin và Truyền thông) quy định về chỉ định phòng đo kiểm phục vụ công tác quản lý chất lượng thuộc quản lý chuyên ngành của Bộ Bưu chính, Viễn thông;
Theo đề nghị của Vụ trưởng Vụ Khoa học và Công nghệ,
QUYẾT ĐỊNH:
Điều 1. Chỉ định phòng đo kiểm:
Phòng thử nghiệm truyền dẫn quang (VILAS 285)
thuộc: Công ty TNHH sản xuất cáp sợi quang VINA-LSC
được phép đo kiểm thiết bị viễn thông theo đúng phạm vi đo kiểm đã được Văn phòng Công nhận Chất lượng - Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng công nhận.
Điều 2. Phòng đo kiểm được chỉ định ở Điều 1 phải tuân thủ đầy đủ các yêu cầu về chỉ định phòng đo kiểm theo quy định hiện hành.
Điều 3. Quyết định này có hiệu lực đến ngày 28 tháng 11 năm 2010.
Nơi nhận: | KT. BỘ TRƯỞNG |
PHỤ LỤC
Tên phòng đo kiểm được chỉ định:
Phòng thử nghiệm truyền dẫn quang (VILAS 285)
thuộc: Công ty TNHH sản xuất cáp sợi quang VINA-LSC
Địa chỉ: Đường Yên Thường, Yên Viên, Gia Lâm, Hà Nội
DANH MỤC PHÉP THỬ ĐƯỢC CÔNG NHẬN
(Theo quyết định số 452/QĐ-CNCL ngày 28/11/2007 của Văn phòng công nhận chất lượng)
TT | Tên sản phẩm, vật liệu được thử | Tên phép thử cụ thể | Chỉ tiêu kỹ thuật |
1 | Cáp sợi quang | Hệ số suy hao quang Phương pháp đo theo kỹ thuật tán xạ ngược | IEC 60793-1-40-C (2001) ITU-T G650 (2.4.2) (2004) |
2 | Tính liên tục quang Phương pháp đo theo kỹ thuật tán xạ ngược | ||
3 | Chiều dài sợi quang Phương pháp đo theo kỹ thuật tán xạ ngược | ||
4 | Điểm xấu trên sợi quang Phương pháp đo theo kỹ thuật tán xạ ngược | ||
5 | Hệ số suy hao quang Phương pháp đo theo kỹ thuật suy hao xen | IEC 60793-1-40-B (2001) ITU-T G650 (2.4.3) (2004) | |
6 | Hệ số tán sắc phân cực Phương pháp đo theo kỹ thuật giao thoa | ITU-T G650 (2.7.3) (2004) | |
7 | Khả năng chịu kéo căng cáp | IEC 60794-1-2-E1 (2003) | |
8 | Khả năng chịu nén của cáp | IEC 60794-1-2-E3 (2003) | |
9 | Khả năng chịu va đập của cáp | IEC 60794-1-2-E4 (2003) | |
10 | Khả năng chịu uốn của cáp | IEC 60794-1-2-E6 (2003) | |
11 | Khả năng chịu xoắn của cáp | IEC 60794-1-2-E7 (2003) | |
12 | Chứng tỏ các chất độn không chảy ra khỏi cáp ở nhiệt độ chỉ ra | TCN 68-160 (1996) | |
13 | Xác định tính ổn định về suy hao của cáp khi thay đổi nhiệt độ | IEC 60794-1-2-F1 (2003) | |
14 | Phương pháp thử ngấm nước | IEC 60794-1-2-F5 (2003) | |
15 | Thiết bị truyền dẫn quang | Số giây tín hiệu bị lỗi đầu thu (RxES) Đo kiểm tra lỗi bit tín hiệu luồng 2 Mb/s | ITU-T G821 (2002) ITU-T M2100 (2003) |
16 | Số giây tín hiệu bị lỗi đầu phát (TxES) Đo kiểm tra lỗi bit tín hiệu luồng 2 Mb/s | ||
17 | Số giây tín hiệu bị lỗi nghiêm trọng đầu thu (RxSES) Đo kiểm tra lỗi bit tín hiệu luồng 2 Mb/s | ||
18 | Số giây tín hiệu bị lỗi nghiêm trọng đầu phát (TxSES) Đo kiểm tra lỗi bit tín hiệu luồng 2 Mb/s | ||
19 | Số giây tín hiệu không được chấp nhận (US) Đo kiểm tra lỗi bit tín hiệu luồng 2 Mb/s | ||
20 | Số giây tín hiệu bị lỗi đầu thu (RxES) Đo kiểm tra lỗi bit tín hiệu quang STM-1 | ITU-T G821 (2002) ITU-T M2101 (2003) | |
21 | Số giây tín hiệu bị lỗi đầu phát (TxES) Đo kiểm tra lỗi bit tín hiệu quang STM-1 | ||
22 | Số giây tín hiệu bị lỗi nghiêm trọng đầu thu (RxSES) Đo kiểm tra lỗi bit tín hiệu quang STM-1 | ||
23 | Số giây tín hiệu bị lỗi nghiêm trọng đầu phát (TxSES) Đo kiểm tra lỗi bit tín hiệu quang STM-1 | ||
24 | Số giây tín hiệu không được chấp nhận (US) Đo kiểm tra lỗi bit tín hiệu quang STM-1 |
